From basic research to industrial partnership

Characterisation

Characterisation

several AFM, STL, SNOM,...



Profilomètre optique Fogale Nanotech
Microscope électronique à balayage


Scanning Electron Microscope Stereoscan 440 Leica


Profilomètre Tencor alpha STEP IQ





Fogale Nanotech optical surface profiler






Tencor Alpha-Step IQ surface profiler









Interferometric microscope

Tridimensionnal roughness meter

Spectroscopic ellipsometer

Nanoindenteur

Système d'analyse XPS (Thermo VG)







XPS analysis system (Thermo VG)



Testeurs sous pointes (BH + HF)






Probe station (BF HF)





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