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Journée Mesures de Champs à l'échelle micro


Journée Mesures de Champs à l'échelle micro

Paris - mercredi 22 juin 2016

Thématique

Le groupe de travail 'Mesures de champs et identification' (commun aux associations AFM, AMAC, AUGC et Mécamat) propose une première journée de travail autour des mesures de champs à l'échelle micro. L'objectif est d'aborder :

1- les mesures de champs à l'échelle micro elles-mêmes : quels sont les problèmes de mise en œuvre de ces techniques? Comment optimiser leurs performances métrologiques?

2- l'identification de propriétés de matériaux et de structures à partir de ce type de mesures : quelles stratégies pour gérer au mieux ces mesures vu leur grand nombre, leur caractère spatialement distribué et bruité?

Programme

9h30-10h : Accueil

10h-10h25 : MAGNIER Vincent (Laboratoire de Mécanique de Lille), SERRANO I., MANN R., WITZ J.F., DUFRENOY P. :
Méthodologie d'identification de propriétés des composants via les mesures de champs.

10h25-10h50 : MOULART Raphaël (ENSAM), ROTINAT R. :
Méthode de grille à l'échelle micrométrique.

10h50-11h15 : TOUCHARD Fabienne (Institut PPRIME-ENSMA):
Etudes multi-échelles par DIC des champs de déformations dans les composites.

11h15-11h40 : GUERY A., HILD F., LATOURTE Félix (EDF R&D MMC), ROUX S. :
Couplage entre mesures de champs et calculs de plasticité cristalline à la surface de polycristaux d'acier austénitique.

11h40-12h05 : SHI Quiwei (EDF R&D, LMT Cachan), LATOURTE F., ROUX S., HILD F. :
Quaternion correlation for tracking crystal motions.

12h05-13h45 : Pause déjeuner : buffet (offert) à l'ENSAM.

13h45-14h25 : HŸTCH Martin (CEMES - Toulouse) : Mapping and modeling deformation and strain at the nanoscale by electron holography.

14h25-14h50 : BADULESCU Claudiu (IRDL – Brest), CARRÈRE N., ADRIEN J., MAIRE E. :
Caractérisation expérimentale d’un assemblage collé en utilisant la micro-tomographie. Mesure de champs de déplacement volumiques.

14h50-15h15 : WITZ Jean-François (CNRS), SEGUIR R., DAHDAH N., LIMODIN N., EL BARTALI A., CHARKALUK E., BUFFIÈRE J.Y.:
Corrélation d’images volumiques et microtomographie aux rayons X: application à l’étude des mécanismes d’endommagement en fatigue dans un alliage de moulage AlSi7Cu3.

15h15-15h40 : CASTELNAU Olivier (CNRS – ENSAM Paris), BORNERT M., BOSSO E., CASTELIER E., DUPOND O., FAVIER V., HÉRIPRÉ E., IBRAHIM M., PETIT J., LOISNARD D., MARIJON J.B., MAURICE C., MICHA J.S., MICHEL V., PALANCHER H., PLANCHER E., QUEY R., ROBACH O., RUPIN N., STODOLNA J., TANGUY A., ULRICH O., ZHANG F.:
Stress field at the micron scale measured by in-situ Laue microdiffraction and HR-EBSD techniques: recent developments.

16h05-16h30 : CORVEC Guillaume (Institut de Physique de Rennes - Université de Rennes), ROBIN E., LE CAM J.-B., LUCAS P., SANGLEBOEUF J.-C.:
Optimisation de la résolution spatiale pour l'étude de la réponse thermique de défauts de surface.

16h30-17h : Discussion


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