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Fabien Amiot

Mécanique Appliquée
Equipe : PMMCM
CNRS

  • Tél. : 03.81.66.60.14
  • Courriel : fabien.amiot@femto-st.fr
  • Bureau : 33 H
  • Adresse : 24 rue de l'Epitaphe 25030 BESANCON cedex

Agrégé de mécanique (2001), j'ai effectué ma thèse entre le LMT-Cachan et le laboratoire d'optique physique de l'ESPCI sur l'application à la biologie de mesures de champs mécaniques à l'échelle micrométrique et le développement de méthodes d'identification adaptées à l'étude mécanique de composants MEMS. Le manuscrit est téléchargeable . Ce travail de thèse a été primé en 2007 par l'AUM.

Après avoir passé presque 2 ans à l'institut de micro-électronique de l'université technique du Danemark (MIC-DTU), je travaille maintenant suivant 2 axes :

  • La caractérisation mécanique des matériaux obtenus en microfabrication à l'échelle du micromètre;
  • L'étude des couplages entre mécanique et environnement pour des structures de dimensions micrométriques et leur utilisation pour la conception de capteurs et d'actionneurs.

Ces activités s'appuient sur :

  • Le développement d'instruments de mesure de champs (mécaniques, mais aussi chimiques) à l'échelle micrométrique ;
  • Le développement de méthodes d'identification adaptées à l'étude mécanique des MEMS (matériaux fortement hetérogènes et couplages surfaciques forts).

Ces travaux ont donné lieu aux publications suivantes, pour lesquelles une version préliminaire est téléchargeable :

  • An Euler-Bernoulli second-strain gradient beam theory for cantilever sensors
    Amiot F., Philos. Mag. Lett. (2013) Draft
  • Nomarski imaging interferometry to measure the displacement field of MEMS
    Amiot F., Roger J.P., Applied Optics 45(30) (2006) 7800 Draft
  • Identification of elastic property and loading fields from full-field displacement measurements
    Amiot F., Hild F., Roger J.P., Int. Jal. Solids. Struct. 44 (2007) 2863 Draft
  • Identification of the electro-elastic coupling from full multi-physical fields measured at the micrometer scale
    Amiot F., Hild F., Kanoufi F., Roger J.P., J. Phys. D : Appl. Phys. 40 (2007) 3314 Draft
  • A model for chemically-induced mechanical loading on MEMS
    Amiot F., J. Mechanics of Materials and Structures 2 (9) (2007) 1787Draft
  • Mesure de champ de déplacement micrométrique d'une surface par corrélation de sa topographie
    Amiot F., Hild F., Roger J.P., I2M 5 (2005) 33 PDF

Ces travaux sont notamment résumés dans mon manuscrit d' HDR.
Une liste plus complète de communications (écrites ou orales) est visible .

Vous trouverez ici la liste de mes publications. Si vous êtes intéressés par l'une d'entre elles, et ne pouvez pas en obtenir une copie, n'hésitez pas à me contacter

Listes des publications :

Category article
2016
  • Sensitivity of the residual topography to single crystal plasticity parameters in Berkovich nanoindentation on FCC nickel
    International Journal of Plasticity (Volume 77, feb 2016, Pages :118 - 140)
    Renner, Emile | Gaillard, Yves | Richard, Fabrice | Amiot, Fabien | Delobelle, Patrick
    pdf | doi | bibtex
  • Calibration procedures for quantitative multiple wavelengths reflectance microscopy
    Review of Scientific Instruments (Volume 87, Issue (1), jan 2016, Pages :10 p)
    Fedala, Yasmine | Munteanu, Sorin | Kanoufi, Frédéric | Tessier, Gilles | Roger, Jean-Paul | Wu, Chang | Amiot, Fabien
    pdf | doi | bibtex
2014
  • Design and fabrication of a multiple-thickness electrochemical cantilever sensor
    Microelectronic Engineering (Volume 119, Issue (1), may 2014, Pages :1 - 5)
    Wu, Chang | Soumann, Valérie | Joseph, Eric | Amiot, Fabien
    pdf | doi | bibtex
2013
  • Imaging interferometry to measure surface rotation field
    Applied Optics (Volume 52, Issue (18), jun 2013, Pages :4360 - 4369)
    Travaillot, Thomas | Dohn, Soren | Boisen, Anja | Amiot, Fabien
    pdf | doi | bibtex
  • Mapping fluxes of radicals from the combination of electrochemical activation and optical microscopy
    Faraday Discussions (Volume 164, apr 2013, Pages :241 - 258)
    Munteanu, Sorin | Roger, Jean-Paul | Fedala, Yasmine | Amiot, Fabien | Combellas, C. | Tessier, Gilles | Kanoufi, Frédéric
    pdf | doi | bibtex
  • In Situ, Real Time Monitoring of Surface Transformation: Ellipsometric Microscopy Imaging of Electrografting at Microstructured Gold Surfaces
    Analytical Chemistry (Volume 85, Issue (4), feb 2013, Pages :1965 - 1971)
    Munteanu, Sorin | Garraud, N. | Roger, Jean-Paul | Amiot, Fabien | Shi, Jian | Chen, Yong | Combellas, C. | Kanoufi, Frédéric
    doi | bibtex
  • Assessment of Digital Image Correlation Measurement Accuracy in the Ultimate Error Regime: Main Results of a Collaborative Benchmark
    Strain (Volume 49, Issue (6), dec 2013, Pages :483 - 496)
    Amiot, Fabien | Bornert, M. | Doumalin, P. | Dupré, J.C. | Fazzini, M. | Orteu, J.J. | Poilâne, C. | Robert , Laurent | Rotinat, R. | Toussaint, E. | Wattrisse, B. | Wienin, J.S.
    doi | bibtex
  • An Euler-Bernoulli second-strain gradient beam theory for cantilever sensors
    Philosophical Magazine Letters (Volume 93, Issue (4), feb 2013, Pages :204 - 212)
    Amiot, Fabien
    pdf | doi | bibtex
2012
  • Scanning Electrochemical Microscopy Monitoring in Microcantilever Platforms.
    Analytical Chemistry (Volume 84, Issue (17), aug 2012, Pages :7449 - 7455)
    Munteanu, Sorin | Gam-Derouich, S. | Flammier, Cécile | Fedala, Yasmine | Combellas, C. | Amiot, Fabien | Kanoufi, Frédéric
    pdf | doi | bibtex
  • Simultaneous measurement of Young's modulus and Poisson's ratio at microscale with two-modes scanning microdeformation microscopy
    Materials Letters (Volume 68, feb 2012, Pages :370 - 373)
    Le Rouzic, Julian | Delobelle, Patrick | Cretin, Bernard | Vairac, Pascal | Amiot, Fabien
    doi | bibtex
2011
  • Multiple wavelength reflectance microscopy to study the multiphysical behavior of microelectromechanical systems
    Optics Letters (Volume 36, Issue (4), feb 2011, Pages :594 - 596)
    Garraud, N. | Fedala, Yasmine | Kanoufi, Frédéric | Teissier, G. | Roger, Jean-Paul | Amiot, Fabien
    pdf | doi | bibtex
2010
  • Position and mass determination of multiple particles using cantilever based mass sensors
    Applied Physics Letters (Volume 97, Issue (4), 2010, Pages :044103-1 - 044103-4)
    Dohn, Soren | Schmid, Silvan | Amiot, Fabien | Boisen, Anja
    pdf | doi | bibtex
Category incollection
2013
  • Surface mechanics and full-field measurements : investigation of the electro-elastic coupling
    Surface effects in Solid Mechanics (Publisher : Springer / , Volume , Issue , Edition : , Series , Chapter , 2013, Pages 193, )
    Flammier, Cécile | Kanoufi, Frédéric | Munteanu, Sorin | Roger, Jean-Paul | Tessier, Gilles | Amiot, Fabien
    pdf | bibtex
2012
  • Equilibrium gap
    Full-Field Measurements and Identification in Solid Mechanics (Publisher : / , Editor : GREDIAC Michel, HILD François, Volume , Issue , Edition : Wiley, Series , Chapter 12, dec 2012, Pages 331 - 362, )
    Amiot, Fabien | Perie, J.N. | Roux, Stéphane
    pdf | bibtex
2010
  • Méthode de l'écart à l'équilibre
    Mesures de champs et identification (Publisher : / , Editor : Hermès-Lavoisier, Volume , Issue , Edition : , Series , Chapter 12, 2010, Pages , )
    Amiot, Fabien | Perie, J.N. | Roux, Stéphane
    pdf | bibtex
Category inproceedings
2016
  • Sur la caractérisation des interactions entre dislocations dans un cristal CFC de Nickel par analyse de la topographie des empreintes Berkovich
    Colloque Indentation 2016 (2016, Pages pages 2 p)
    Renner, Emile | Gaillard, Yves | Richard, Fabrice | Amiot, Fabien | Delobelle, Patrick
    pdf | bibtex
  • Poisson effect in higher-order elasticity beam theory
    15th European Mechanics of Materials Conference (EMMC15) (2016)
    Amiot, Fabien
    bibtex
  • Mechanical characterization of anisotropic materials by Scanning Microdeformation Microscopy
    15th European Mechanics of Materials Conference (EMMC 15) (2016)
    Maloum, Fatah | Gaillard, Yves | Personeni, Martial | Thibaud, Sébastien | Vairac, Pascal | Amiot, Fabien
    bibtex
2015
  • On the identifiability of the slip system interaction matrix from residual topography left by nanoindentation in Nickel
    European Solid Mechanics Conference (ESMC9) (2015)
    Renner, Emile | Gaillard, Yves | Richard, Fabrice | Delobelle, Patrick | Amiot, Fabien
    pdf | bibtex
2014
  • Second-strain gradient elasticity parameters identification using full-field measurements
    14th European Mechanics of Materials Conference (EMMC14) (2014)
    Amiot, Fabien | Wu, Chang
    bibtex
  • Higher-order elasticity parameters identification for optimal cantilever sensors design
    11th Nanomechanical Sensing Workshop (NMC 2014) (2014)
    Amiot, Fabien | Wu, Chang
    pdf | bibtex
2013
  • Simultaneous measurement of Young's modulus and Poisson's ratio at microscale with multimode scanning microdeformation microscopy and full-field measurements
    International Conference on full-field measurement techniques and their applications in experimental solid mechanics (Photomechanics 2013) / Montpellier, France (2013, Pages pages 1 - 6)
    Travaillot, Thomas | Vairac, Pascal | Delobelle, Patrick | Amiot, Fabien
    bibtex
  • Chemo-mechanical couplings identification from multiple-wavelengths microscopy
    PhotoMechanics 2013 / Montpellier, France (2013, Pages pages 6)
    Amiot, Fabien | Kanoufi, Frédéric | Munteanu, Sorin | Roger, Jean-Paul | Tessier, Gilles
    bibtex
  • An Euler-Bernoulli second-strain gradient beam theory for cantilever sensors
    10th International Workshop on Nanomechanical Sensing (2013, Pages pages 204 - 212)
    Amiot, Fabien
    doi | bibtex
  • In situ real time monitoring of surface transformation : ellipsometric microscopy imaging of electrografting at microstructured gold surfaces
    ElecNano5, The Nanoscale and Electroanalysis : surface nanostructuration, nanobiological systems, coupled techniques, microsystems (2013, Pages pages 1 - 6)
    Kanoufi, Frédéric | Munteanu, Sorin | Amiot, Fabien | Roger, Jean-Paul | Combellas, C.
    bibtex
  • Design and fabrication of a multiple-thickness electrochemical cantilever sensor
    39th International Conference on Micro and Nano Engineering (2013, Pages pages 1 - 6)
    Wu, Chang | Amiot, Fabien
    bibtex
2012
  • Simultaneous measurement of Young's modulus and Poisson's ratio at microscale with multiple modes scanning microdeformation microscopy
    International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICN+T 2012) / Paris, France (2012)
    Travaillot, Thomas | Vairac, Pascal | Delobelle, Patrick | Amiot, Fabien
    bibtex
  • Mesure simultanée du module de Young et du coefficient de Poisson en microscopie à champ proche multimodale
    12ème Journée Scientifique du Groupe Français des Polymères (2012)
    Travaillot, Thomas | Vairac, Pascal | Delobelle, Patrick | Amiot, Fabien
    bibtex
  • Simultaneous measurement of Young’s modulus and Poisson’s ratio at microscale with N-modes scanning microdeformation microscopy
    International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2012) / Paris, France (2012)
    Travaillot, Thomas | Vairac, Pascal | Delobelle, Patrick | Amiot, Fabien
    bibtex
2011
  • Surface mechanics and full-field measurements for micromechanical sensors
    Symposium on Full-Field Measurements and Identification in Solid Mechanics (IUTAM) (2011, Pages pages 7 - 14)
    Amiot, Fabien | Fedala, Yasmine | Flammier, Cécile | Garraud, N. | Kanoufi, Frédéric | Roger, Jean-Paul | Teissier, G.
    bibtex
  • Equilibrium-based regularization of multiple wavelengths imaging microscopy measurements for the electro-elastic coupling modelling
    International Conference on Full-Field Measurement Techniques and their applications in Experimental Solid Mechanics (2011)
    Flammier, Cécile | Fedala, Yasmine | Kanoufi, Frédéric | Teissier, G. | Roger, Jean-Paul | Amiot, Fabien
    bibtex
  • Imaging the local electrochemical reactivity of surfaces by light reflectivity : application to the electrografting of aryldiazonium salts
    7th Electrochemistry in Nanostructuration of Substrates and Energy (ECHEMS) (2011)
    Kanoufi, Frédéric | Munteanu, Sorin | Fedala, Yasmine | Flammier, Cécile | Roger, Jean-Paul | Teissier, G. | Amiot, Fabien | Combellas, C.
    bibtex
  • Mechanical characterization using a scanning microdeformation microscope and full-field measurements
    International Conference on Full-Field Measurement Techniques and their applications in Experimental Solid Mechanics (2011)
    Travaillot, Thomas | Amiot, Fabien
    bibtex
  • Caractérisation mécanique par sollicitation locale et mesure de champ
    20ème Congrès Francais de Mécanique (CFM 2011) (2011)
    Travaillot, Thomas | Vairac, Pascal | Delobelle, Patrick | Amiot, Fabien
    pdf | bibtex
  • Identification du couplage électro-élastique à partir de mesures de champs régularisés par les conditions d'équilibre
    20ème Congrès Français de Mécanique (CFM 2011) (2011)
    Flammier, Cécile | Fedala, Yasmine | Kanoufi, Frédéric | Tessier, Gilles | Roger, Jean-Paul | Amiot, Fabien
    pdf | bibtex
2010
  • Surface mechanics and full-field measurements for micromechanical sensors
    7th International Workshop on Nanomechanical Cantilever Sensors (2010)
    Amiot, Fabien | Fedala, Yasmine | Flammier, Cécile | Garraud, N. | Kanoufi, Frédéric | Roger, Jean-Paul | Teissier, G.
    bibtex
  • Electro-elastic coupling modeling from multiple-wavelengths imaging microscopy
    14th International Conference on Experimental Mechanics (ICEM 14) (Volume 6, 2010)
    Flammier, Cécile | Fedala, Yasmine | Kanoufi, Frédéric | Tessier, Gilles | Roger, Jean-Paul | Amiot, Fabien
    pdf | doi | bibtex
  • Light reflectivity - a real time imaging tool to monitor the electrografting of microelectrodes
    61th Meeting of the International Society of Electrochemistry (2010)
    Munteanu, Sorin | Fedala, Yasmine | Flammier, Cécile | Roger, Jean-Paul | Teissier, G. | Amiot, Fabien | Combellas, C.
    bibtex
  • The equilibrium gap method : a two scales approach
    14th International Conference on Experimental Mechanics (ICEM 14) (Volume 6, 2010)
    Amiot, Fabien
    doi | bibtex
Category misc
2012
  • Procédé et dispositif de mesure d'un milieu d'intérêt
    (jul 2012)
    Kanoufi, Frédéric | Roger, Jean-Paul | Tessier, Gilles | Combellas, C. | Munteanu, Sorin | Gam-Derouich, S. | Amiot, Fabien
    bibtex