De la recherche fondamentale au partenariat industriel

Caractérisation


Caractérisation


Plusieurs AFM, STL, SNOM, ...



Microscope électronique à balayage



MEB Stereoscan 440 Leica



Profilomètre optique Fogale Nanotech



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Profilomètre Tencor alpha STEP IQ





Profilomètre Tencor






Microscope interferométrique


Rugosimètre tridimensionnel


Ellipsomètre spectroscopique


Nano-indenteur

Système d'analyse XPS (Thermo VG)





Système d'analyse XPS (Thermo VG)




Testeurs sous pointes (BH + HF)



Testeurs sous pointes (BF HF)





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