Journée Métrologie Avancée

Dans le cadre des Journées de la plateforme MIFHySTO, la journée Métrologie Avancée se tiendra le jeudi 3 février 2022 à l'ENSMM (bâtiment transfert).

L’objectif de cette journée est de présenter les possibilités de la plateforme MIFHySTO en termes de métrologie par le biais de la micro-nano Tomographie et de la métrologie optique.
Cette journée s’articulera autour de ces deux  techniques avec des conférences en matinée et des ateliers l’après-midi.

Trois partenaires industriels seront présents :
Solutions en tomographie : RX solutions
Traitement d’images tomographiques : Volume Graphics
Solutions métrologie optique : Bruker Alicona

En raison des restrictions liées aux conditions sanitaires, le repas est annulé.

Les inscriptions sont closes, mais n'hésitez pas à contacter X. Gabrion  (xavier.gabrion@ens2m.fr)

Découvrir le programme

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_{Photo : Ludovic Godard}